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备注:半导体制造
《光谱量测技术在半导体前道制造工艺中的应用》
课程时间2022年4月28日(周四)15:00-15:30 线上直播,15:30-16:00 群内交流课后问答我们在课前向群内小伙伴收集了部分问题,课后讲师将逐一解答:1、刻蚀过程中一般用到什么波段?2、是单点的位移测量还是一条线上的位移测量?光斑的典型尺寸大概是多少?3、蔡司的光谱仪杂散光目前可以做到什么水平?扫码添加光博君
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备注:半导体制造
半导体前道制造工艺概况
前道制造过程中主要有哪些工艺需要用到光谱量测技术
光谱量测技术面临的挑战与机遇
嘉宾介绍Dr. Marianne Heilmann
卡尔蔡司光谱有限公司
产品经理
Dr. Marianne Heilmann目前担任卡尔蔡司光谱有限公司光谱仪模块的产品经理。她在耶拿大学和阿德莱德大学主攻物理学专业并在耶拿大学取得理论物理学的博士学位。在加入卡尔蔡司光谱有限公司之前,她从事压电纳米定位的研发工作。
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届时将在群内公布线上直播课堂链接,课后将在群内答疑解惑。
大量事实表明:上课人数越多,提问的同学越多,可以学到的知识也就越多!欢迎大家分享转发下图到朋友圈,呼朋唤友一起听课~
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