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3D视觉应用
哪些缺陷
仅靠2D图像不易发现?
“
翘曲、凹陷
高度差、装配嵌合不良……
”
很多缺陷藏在“高度形貌”里,只看颜色、灰度,可能存在漏检风险。
2026年10月27-29日深圳机器视觉展暨机器视觉技术及工业应用研讨会(Vision China Shenzhen)即将开幕,基恩士将携其LJ-S8000系列产品,在展会现场展出,如需评估产线改造可行性,欢迎来现场和工程师深层次探讨。
LJ-S8000系列
全自动扫描3D视觉系统
支持多种全新或改造设备的安装情况:
回转工作台:在目标物的短暂停止时间内完成检测,无需额外的检测工序,只需安装到现有设备上即可;
可配备机械手:配备机械手,支持对各种角度及位置进行检测,无须担心机械手的振动及直线性,可稳定检测;
独立检测:跟踪目标物的位置及倾斜进行检测,用手放置,即可完成检测;
步进式供料器:在目标物的短暂停止时间内完成检测,在现有设备后续加装,便可轻松导入3D检测;
最大视野640×640mm可实现各类工件的检测:即便是难以在线化、因多品种小批次而难以实现检测器统一化的课题,也可以利用3D检测来节省工时。通过轮廓检测功能,只需放置进去,即可不易受测量范围内目标物姿态的影响进行检测。
应用场景
锂电场景
焊接反光、BUSBAR翘曲、防爆阀凹陷,用高度做判断,可有效抑制反光干扰。
半导体电子
芯片翘起、封装翘曲、针脚高度异常,同时完成测量+读码,一机多用。
汽车零部件
转向节尺寸、车门间隙段差、卡扣装配、轴承压入状态检测,适配机械手,做大范围扫描。
金刚石晶圆检测应用
随着高功率器件的散热需求提升,金刚石晶圆作为新一代散热衬底逐渐普及,但其超高硬度与脆性也为检测带来了挑战。本文结合实际检测案例,介绍非接触测厚技术如何解决金刚石晶圆的TTV、Warp等参数检测难题,为键合工艺提供精准的数据支撑。
2026年10月27-29日深圳机器视觉展暨机器视觉技术及工业应用研讨会(Vision China Shenzhen)即将开幕,优可测也将携其产品及解决方案来到展会现场,欢迎各行业同仁莅临交流。
先进制程的“钻石”晶圆,
从管控厚度开始?
随着半导体制程不断迈向3nm、2nm的先进节点,晶圆的加工精度要求已经到了微米级甚至纳米级。一片合格的晶圆,从原料到表面加工都充满了对工艺能力的挑战。
目前越来越普及的超薄晶圆,其厚度一旦低于50μm以下,硅片的机械脆性会大幅上升。若是利用硬度高、加工难度大的SiC、GaN等第三代半导体材料制成的晶圆,检测要求只会更严苛,精度要求也会更高。
新一代散热片的检测挑战
金刚石晶圆:
和传统硅晶圆、玻璃晶圆相比,金刚石晶圆具备超高热导率、超高机械强度与硬度、超高电绝缘性,特别是它的超高热导率,和如今超高堆叠率的芯片需求完美契合。
金刚石晶圆作为散热片时,需要和GaN或硅片键合。在键合的过程中,需要把控其Warp和Bow以保证键合界面的贴合度,此外,晶圆TTV也会影响键合片的精度。
传统检测的痛点:
过去,针对这类硬脆晶圆的检测,很多工厂采用的都是接触式测厚方案:通过探针压在晶圆表面,获取单点的厚度数据。但这类方案的缺点明显:
· 样品损伤风险:探针的机械接触,不仅容易刮伤金刚石晶圆表面,对于超薄金刚石晶圆而言,探针的压力还可能导致晶圆碎裂,造成原料损失。
· 效率与数据完整性不足:单点测量的效率低,单晶圆检测往往需要十分钟,且仅能获取少量点位的数据,无法掌握晶圆全表面的厚度与形貌均一性,难以满足先进工艺的质量管控需求。
优可测晶圆测量方案:
高精度、高速度、客制化
优可测接到了客户需求:测量3寸多晶金刚石的TTV、Warp、Bow,精度要求亚微米级。后续,该项目采用了优可测全自动非接触厚度测量仪APS系列进行检测,实测效果如下:
非接触点光谱对射技术,
彻底避免损伤:
优可测采用点光谱对射测量技术,上下两个传感器同步采集晶圆正反表面的高度数据,全程无任何机械接触,彻底避免了检测过程中的样品损伤,同时测量精度可达0.5μm,完美匹配客户的亚微米级精度要求。
定制化载台,
适配不同的应用场景:
针对金刚石窗口片,要保证实际的应用场景,优可测采用三点支撑载台进行测量,测量出窗口片带重力后的形貌,契合实际应用场景。
针对金刚石散热片,优可测采用高精度陶瓷载台支撑,测量晶圆去除重力影响后的翘曲,为键合工艺提供精准的形貌数据,保障键合界面的贴合度。
全参数高效检测,
一次扫描搞定所有数据:
一次扫描即可同步获取晶圆的厚度、TTV、Warp、Bow等全参数,同时生成全表面的厚度 / 形貌分布热力图,客户可以直观掌握全片的均一性情况,检测全程不超过2分钟,检测效率与数据完整性较传统接触式测量提升60%以上!
除金刚石晶圆以外,优可测全自动非接触厚度测量仪APS,一台搞定主流规格晶圆测量:
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