【深圳展前瞻】锐视光电：2.5D光源的定制化组合方案

光源

&

检测

在机器视觉检测项目中，即便同为高反光或反射不均匀表面的检测场景，不同客户遇到的问题也可能截然不同。

部分工件带有台阶、凹槽或明显高度差，采用常规条纹光照明时容易出现遮挡；还有一些工件外形不规则、局部高反光，使用统一亮度照明时容易产生亮斑或过曝；不同项目都需要根据工件结构、反射特性和检测目标，对2.5D光源的照明组合与分区方式进行进阶设计。

图源：Vision China 2025（深圳）

2026年10月27-29日，深圳机器视觉展暨机器视觉技术及工业应用研讨会（Vision China Shenzhen）将重磅启幕，作为条纹光源生产厂家，东莞锐视光电将携其2.5D光源的定制化组合方案来到展会现场。欢迎行业同仁莅临展位进行交流，将根据您需求，定制更合适的光源与成像方案。

P-DISL2条纹光源

条纹光源通过投射周期性明暗条纹，将高反光表面的细微形貌变化转化为可识别的条纹变化。配合线扫相机和分时频闪，可用于强化划伤、凹坑、压痕、脏污以及台阶边缘等缺陷。

但在实际项目中，仅采用一种固定照明结构或统一亮度，往往不足以获得合格的检测图像。工件结构、表面材质、缺陷方向、工作距离、安装空间以及允许的拍摄节拍，都会直接影响最终成像效果。真正有效的方案，不是将固定结构直接套用到所有项目上，而是围绕客户需求重新设计照明组合与分区控制。接下来我们通过两个案例，展示2.5D光源的两种进阶思路。

案例一

条纹同轴光与四分区环光组合10分时紧凑集成

该方案将条纹同轴光源与四分区环光集成在同一结构中，条纹照明通过同轴光路进入检测区域，环光的四个分区围绕发光区域布置，采用分时点亮的方式，可在有限安装空间内一次完成10张子图的分时采集。

 产品特点：

· 同轴条纹照明：通过分光或转角结构将条纹照明折入相机成像光路，减少台阶、凹槽、凸台及存在高度差的结构造成的遮挡与成像盲区。

· 四分区独立照明：环光的四个分区可分别独立点亮，直接输出四个方向的光照图像，同时可满足漫反射物料的成像需求。

· 10分时紧凑集成：搭配新研发的P-SD2系列分时频闪控制器，相较于市面常规支持6-8路分时的常规频闪控制器，该系列最高支持50路分时控制，应对组合条纹同轴方案的10分时控制需求绰绰有余。

 典型应用：

适用场景：玻璃盖板、台阶金属件、精密结构件、注塑镜面件、半导体封装、IC引脚，以及具有孔位、凹槽或凸台的高反光零件。

 成像效果：

结构图体现同轴条纹与四分区环光的一体化集成，可有效减少倾斜架设带来的视差与结构遮挡。从对比结果可以看出，倾斜架设时台阶后的箭头无法完整呈现，而直同轴架设能够清楚获取被测区域信息，更适合复杂结构工件的外观检测、字符识别及缺陷分析。再搭配2.5D成像，台阶后的缺陷也可轻松呈现。

光源实物/结构渲染图

倾斜架设效果

(台阶后的箭头被遮挡)

直同轴架设效果

(能看到台阶后面箭头)

案例二

常规4分区光度立体进阶64分区

分区调光实现不规则样品均匀成像

该方案以常规4分区光度立体为基础，面向外形不规则、局部高反光且反射差异较大的工件，将照明分区由4个进阶扩展至64个可独立控制的穹顶分区。系统可分别设定每个分区的亮度，并将多方向照明图像用于光度立体计算，兼顾反光抑制与细微形貌信息提取。

 产品特点

· 从4分区进阶至64分区：相较于常规4分区光度立体，64分区可提供更细致的方向与位置控制。每个分区均可单独设置亮度，针对工件不同位置的材质、曲面和反射强度，可进行局部补光或减光，避免以统一亮度覆盖整个视野。

· 进阶的强反光位置定向抑制：当工件局部出现过强反光时，可下调对应光照位置分区的亮度，降低饱和和亮斑；其他区域保持必要的照明强度，使不规则样品在视野内获得更均匀的光照。

· 光度立体信息融合：64个分区按设定时序输出更丰富的多方向光照图像，可用于光度立体合成，突出凹凸、压痕、划伤、边缘起伏等形貌差异，为后续缺陷分析提供稳定输入。

 典型应用

适用场景：异形金属件、曲面件、压铸件、焊接件、消费电子外壳、半导体封装件，以及表面反光不均、结构起伏明显的工件。

 成像效果

常规4分区进阶至64分区后，可通过更细的分区亮度标定，针对工件易产生强反光的区域，下调相应分区的输出亮度；在保留其他区域有效信号的同时，减少局部过曝与反光干扰。相比常规4分区或整灯统一调光，64分区方案更适合外形不规则、反射差异大的样品；配合光度立体合成，可更稳定地呈现表面细微形貌和缺陷。

64分区结构

64分区单独可控

光度立体合成效果图

我们定制的，不只是一款光源

2.5D光源的应用不存在唯一固定结构。针对不同项目，需要综合考量工件尺寸与外形结构、表面反射特性、目标缺陷类型及方向、相机视野与工作距离、允许的分时数量、产线运行速度以及设备安装空间。

部分项目适合将常规条纹光源与环光进阶组合，兼顾条纹形貌信息与多方向照明；另一部分项目则可将常规4分区光度立体进阶至64分区，通过更精细的亮度控制，改善不规则、高反光工件的成像均匀性。针对不同的检测目标，我们可对光源结构、照明方向、分区方式、亮度参数、触发时序和机械安装进行定制。

案例一将常规条纹光源与四分区环光进行进阶组合，可在10分时频闪下同时兼顾复杂结构成像与检测节拍要求；案例二将常规4分区光度立体进阶至64分区，通过对各分区独立调光，在工件反光对应的光照位置降低亮度，让不规则样品获得更均匀的照明与更稳定的形貌信息。

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