参展企业：北京自动测试技术研究所有限公司

企业介绍

北京自动测试技术研究所成立于1984年，2021年改制更名为北京自动测试技术研究所有限公司（以下简称“自测所”），隶属于北京市科学技术研究院，是国家科委批准成立的国内唯一专门从事集成电路测试技术研究、测试系统开发、销售及测试服务的专业机构。

自2002年以来，自测所先后获得多项国家级、市级荣誉称号，是集成电路测试领域的国家级科研攻关牵头单位。在国家“六五”至“十三五”期间，自测所承担了多个国家级科技攻关项目，建立了我国第一个大型集成电路程序库及全国第一个“集成电路测试科技条件平台”。

自测所通过了ISO9001质量管理体系认证，并拥有计算机软件著作权69项、发明专利14项、实用新型专利21项、集成电路布图设计1项。

公司自主研发的系列数字测试系统、模拟测试系统、数模混合信号测试系统等填补了我国测试系统研发的空白，测试系统规模、最高测试速率、测试管脚数等多项指标均达到国内领先水平。

BC3192EX-B 数字基本型集成电路测试系统

产品配置：

典型配置为256路数字通道，200Mbps数据速率，64M向量存储深度，perpin结构，具有丰富测试程序库，拥有多种模式的测试接口板，可实现多时域、高效、跨平台测试.

产品应用：

适用于逻辑类、控制器类、消费类等数字IC的测试。

BC3192EX-P 数字高并测型集成电路测试系统

产品配置：

典型配置为768路数字通道，128M向量存储深度，perpin电源管理单元及时序控制单元，可实现最高192并测（384扩展），具有高通道数、多路电压电流源、大向量存储深度。

产品应用：

适用于有高并行测试需求的晶圆测试及多通道的IC产品高效测试。

BC3192EX-M 数模混合集成电路测试系统

产品配置：

典型配置为512路数字通道，400Mbps测试速率，64M向量存储深度，拥有AD/DA模块，4路音/视频波形发生器，4路音/视频数字化仪，可实现高精度混合信号测试。

产品应用：

适用于数模混合芯片及高速度、高时间精度数字芯片的测试。

BC3192EX-SP 存储器集成电路测试系统

产品配置：

具备完整的算法图形产生模块，完整的SPI指令集，具有多重MATCH功能，高性能并行测试、时间测试精度高。

产品应用：

适用于静态存储器、NAND FLASH和  NOR FLASHA产品的测试。

企业联系

联系人：张丽丽

电话：756

邮箱：.cn