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态坦测试亮相IICIE国际集成电路创新博览会,全栈自研方案赋能AI存储测试创新

来源:世展网 分类:半导体行业资讯 2026-09-28 17:03 阅读:959
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2027年中国(深圳)国际集成电路创新博览会暨半导体展IICIEE

2027-09-08-09-10

距离344天

2026年9月9日至11日,IICIE国际集成电路创新博览会在深圳隆重举行。成都态坦测试科技有限公司(以下简称“态坦测试”)携自研一站式半导体测试解决方案重磅亮相,全面展示了贯穿存储晶圆、芯片、模组的全流程测试能力,以及深度定制的全栈服务能力,覆盖ATE测试设备、SLT测试设备、BI老化设备、模组测试设备等全景产品,充分展现了公司在存储及SoC测试领域深厚的自研创新实力。

01

全矩阵产品亮相

直击AI存储测试需求

AI大模型的快速发展驱动存储技术不断迭代,对测试设备的高并发、宽温域、高精度提出了严苛要求。态坦测试依托全栈自研能力,在此次展会上全面展示了覆盖ATE、BI老化、SLT及模组测试的全矩阵产品,满足AI时代客户对存储测试设备精准、稳定、极致TCO的需求。

TA0210

P-ATE参数自动化测试设备

  • UPH高达10K,全面支持存储芯片DRAM/NAND与数字芯片功能测试

  • 支持OPEN/SHORT/LEAKAGE等电性能测试全覆盖

  • 实时可视监控,测试报告自动生成

TB7500

存储芯片ATE老化测试设备

  • 支持DDR3/4/5、LPDDR4/5老化测试及修复应用

  • 业界标准ATE架构,智能无人化测试

  • 可灵活更换BIB,多配置适配不同车规器件

TL2900

DDR SLT测试设备

  • 支持最高1200个DUT同测,理论UPD超30K

  • 具备Pattern库与自研算法,覆盖SAT/TF/CF/NPSF等DDR失效模型

  • 参数深度可调,开放可编程

TS1932

PCIe Gen5 SSD测试系统

  • 支持PCIE 5.0(32GT/S)并向下兼容,最高同测256DUT

  • 兼容U.2/M.2/EDSFF等主流接口规格

  • 独立供电,智能精密监测追溯

  • 自定义SDK,测试用例灵活配置

TS1932ES-RT

PCIe Gen5 SSD桌面级测试设备

  • 16 DUT 常温测试

  • 全流程研发验证,工程分析、调试、程序开发、测试用途

  • 测试板卡/软件/系统架构保持与量产机一致

滑动查看

展会期间,集微网、半导体产业纵横等行业媒体对态坦测试进行专题采访报道。面对AI重塑存储产业带来的测试复杂度和需求升级,态坦测试坚持“深而精”的战略定位,以ATE测试平台为基础,构建了覆盖BIST、CP、FT、SLT到SSD/DDR模组测试的全流程闭环能力,直击客户对测试设备“测得快、测得准、跑得稳”及数据打通的深层次需求。

02

深度创新与全栈服务

助力客户实现极致TCO

态坦测试坚持深度自研与技术创新,累积获得130+全球专利及软著,通过专利技术驱动研发创新,同时深耕质量体系护航先进制造,保障高品质量产交付,目前已获得“专精特新”等权威认证。在量产验证方面,目前公司已有BI/SLT/SSD/DDR等20+款测试设备实现量产,并成功导入国内主流芯片、模组及封测厂商。同时18+款升级新产品装备即将量产,实现国产高端ATE全覆盖。

在研发制造一体化能力基础上,公司在多项细分领域达到行业领先,包括行业首创SSD全自动化生产测试设备(斩获FMS 2023大奖),行业首创支持相变存储器测试机(国内唯一),国内首台高并测、高热负荷、高温度均匀性的Flash/DRAM量产BI测试机、LPDDR5 SLT测试机。

在服务方面,态坦测试通过多维服务全程护航,提供交钥匙测试方案定制服务,涵盖测试板、测试用例、测试软件及可靠性验证的一站式测试方案,并依托成都、惠州、深圳、武汉、合肥、上海、苏州、西安等多城市服务中心布局,实现24h本地化高效响应客户需求,以深度定制的全链服务助力客户实现极致TCO。

03

把握行业变局

开启智能测试新坦途

目前国产测试设备已从“进口替代”进入到“创造更高价值”的深水区,未来竞争不仅是硬件参数的比拼,更是软件、算法与数据能力的综合竞争。把握AI与国产化双重机遇,态坦正致力于从单纯的设备供应商向智能测试解决方案提供商转型,让国产设备真正在产线上创造客户价值。

从全场景产品矩阵,到深度定制的全栈服务,态坦测试将始终坚持全栈自研的发展路线,深化在存储与SoC测试领域的技术积累,推进新型存储芯片从研发、可靠性测试到量产落地的全流程方案布局,以精准、稳定、极致TCO的解决方案,携手产业链伙伴,共同开启智能测试的新坦途!

关于态坦测试

成都态坦测试科技有限公司成立于2023年,公司聚焦半导体(存储/SoC)测试核心领域,核心团队拥有10年以上的一线半导体巨头测试设备研发经验。公司布局了存储芯片ATE测试机、BI老化测试机、SLT测试机、SSD模组测试装备和DDR模组测试装备等系列产品,涵盖量产及研发工程机,助力DRAM及NAND Flash领域测试装备的国产化突破,同时公司亦在半导体测试关键材料及治具方面深入研究,能够为客户提供全方位的测试设备交付和维护服务。

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